本方案介绍了硅材料电阻率、方阻测试时四探针探头、四探针仪器和四探针测试台选择原则和型号推荐。
上架时间: 2015/9/2 14:19:29
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一、可以测试的硅材料类型
图1-1 硅晶棒晶锭 图1-2 多晶硅片 图1-3 单晶硅片
图1-4普通硅片 图 1-4 硅块料
二、仪器配件选配方案
硅材料电阻率、方阻测试方案选配核心的原则,一是要选择专门测试硅材料的钨针探头,耐磨性好,使
用时间长,二是要知道硅材料的电阻率范围,以便选配我公司合适的四探针测试仪。 硅材料电阻率测试的方案选配分三个方面:探头的选配、仪器的选配、测试台的选配。任意三件套组成 可以构成不同特色的方案,或侧重价格、或侧重技术精度、或适用场合或综合考虑。
2.1 探头的选配:由于硅材料是硬度高,表面一般较粗糙,甚至有影响测试的氧化层等,所以硅材料测试
探头选配原则是耐磨耐用,要有一定穿透性,推荐使用ST2253-F01型碳化钨针四探针探头。
如图2-1 点击这里查看详情
图 2-1 ST2253-F01 碳化钨针探头
市场上也有钢针的,但是耐用寿命不如碳化钨针。我们苏州晶格只有钨针的。测试探头有台式的可以配合在任 意一款测试台上。图示为SZT-C型快速恒压四探针测试台,也有手持式的,适合手持式测试的。
图2-2 SZT-C测试台
2.2 四探针测试仪选配。
四探针测试仪选配的基本原则是材料电阻率或方阻的测试范围、测试精度,一般测试范围不算大的可
以选M-3手持式,如果范围测试大一点的可以选择台式的ST2258C,带PC软件的可以选择ST2253,如果想测
试精度更好,更准一点的可以选择双电测ST2263,这款也带电脑PC软件的。这三款可以自由选配,如下图
所示
M-3手持式四探针测试 点击这里查看详情
测试范围、分辨率
电 阻: 0.010Ω ~ 50.00kΩ, 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω
电 阻 率: 0.010Ω-cm ~ 20.00kΩ-cm, 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω-cm
方块电阻: 0.050Ω/□ ~ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω/□
量程划分及误差等级
M-3手持式四探针仪器 如下图 点击这里查看详情
M-3手持式是款充电式,里面是五个量程的,直接拿在手上就可以进行测试了,在车间 或出差方便携带。
台式ST2258C四探针测试仪 点击这里查看详情
测试范围、分辨率
电 阻:10.0×10-6 ~ 200.0×10∧3Ω, 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10∧3 Ω (1.0×10-6 ~ 20.00×10∧3 Ω, 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×10∧3 Ω) 电 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×10∧3 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10∧3 Ω-cm (1.0×10-6 ~ 20.00×10∧3 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×10∧3 Ω-cm) 方块电阻:50.0×10-6 ~ 900.0×10∧3 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×10∧3 Ω/□ (5.0×10-6 ~ 100.0×10∧3 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×10∧3 Ω/□)
量程划分及误差等级
台式ST2258C是款测试范围大一点,是八档宽量程的,手动/自动量程,带产品分类功能,比
M-3手持式多几个量程。不带电脑pc测试软件的,手工记录数据。
ST2258C
台式ST2253四探针测试仪 点击这里查看详情
测试范围、分辨率
电 阻:1×10-4~2×10∧5 Ω , 分辨率:1×10-5~1×10∧2 Ω 电阻率:1×10-4~2×10∧5 Ω-cm, 分辨率:1×10-5~1×10∧2 Ω-cm 方 阻:5×10-4~1×10∧6 Ω/□, 分辨率:5×10-5~1×10∧2 Ω/□ 量程划分及误差
ST2253测试范围和ST2258C是一样的,也是八档宽量程的。但ST2253是带电脑PC软件的,能够
方便的记录数据和储存数据。
台式ST2263四探针测试仪 点击这里查看详情
测试范围、分辨率
电阻率:1×10-4~2×10∧5 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×10∧2 Ω-cm 方 阻:5×10-4~1×10∧6 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×10∧2 Ω/□ 电 阻:1×10-5~2×10∧5 Ω ,分辨率:1×10-6~1×10∧2 Ω
量程划分及误差等级
台式ST2263如下图 所示
台式ST2263这款是双电测的,误差小,测试更精准,带电脑PC软件
2.3 硅材料测试四探针测试台选配 点击这里查看详情
一般测试台可以选配我公司手动式的SZT-C,上下压力可以手动调节,SZT-A或电动SZT-B型的都 可以选择使用。
SZT-C SZT-A SZT-B
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