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SZT-G型橡塑材料电阻率测试台
苏州晶格电子有限公司自主研发生产四探针测试仪,方阻测试仪,SZT-G型橡塑材料电阻率测试台,四探针测试台
苏州晶格电子有限公司自主研发生产四探针测试仪,方阻测试仪,SZT-G型橡塑材料电阻率测试台,四探针测试台
产品类别： SZT-G型橡塑材料测试台
上架时间： 2013/5/2 15:07:54
浏览次数： 39004
上架时间： 2013/5/2 15:07:54
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产品详细
一 、功能与结构特征概述
基本功能： SZT-G型橡塑材料电阻率测试台，配以四探针仪器构成成套测试系统，是运用四端子测量原理的专业测量橡塑材料或半导体薄膜的电阻率/方阻的多用途综合测量装置.（以下简称测试台）
基本组成：测试台由样品盒、测试电极组、升降台、支架、连接线缆等部件组成。
配套与兼容：本测试台兼容本公司所有台式四探针测试仪器。本测试台可兼容国内同行绝大多数四探针电阻率/方阻测试仪器。
优势特征：本测试台电极组升降是快速恒压手动方式，稳定性好、结构紧凑、测量简便等特点。样品盒是用耐高温、耐腐蚀、高绝缘的材料做成的，并且带有联通电极，这样清洁好的标准样品装夹后，便于烘干、时效、测试、移动等，而避免手接触样品带来污染影响测试精度。
仪器适用于半导体薄膜材料厂、橡塑材料厂、金属薄膜材料厂、电容器厂、科研单位、高等院校等对半导体或橡塑材料的方阻、电阻率性能的测试。
二、技术参数（以配ST2258A型多功能数字式四探针测试仪为例）
2.1 测量范围、分辨率（有所配仪器决定）
（1）方阻测试范围*（以配SZT-G测试刀架为例）
测量膜宽：1mm≤B≤50mm
方阻测量值： 1.0×10-3 ～ 2.000×106 Ω/□， 分辨率：1.0×10-4 ～ 1.0×103 Ω/□。
（2）电阻率测试范围（以配SZT-G测试刀架为例）
（厚度d<10mm,宽w<50mm）
电阻率测量值： 1.0×10-3 ～ 2.00×106 Ω*cm， 分辨率：1.0×10-4 ～ 1.0×103 Ω*cm。
2.2 SZT-G50测试刀架：
⑴电压刀片间距：20mm±0.2% ，刀长60mm
⑵电流刀片间距： 70mm，刀长60mm
⑶测试刀架外型尺寸：220×180×200（长×宽×高）
查看《SZT-G型橡塑材料电阻率测试台技术使用说明书》
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