你现在的位置:首页>>产品中心>>A系列-薄层材料>>导体薄层>>电容器金属化膜>>A系列-电阻率方阻测试电容器金属化膜
电容器金属化膜(方阻方块电阻)测试方案
苏州晶格电子有限公司自主研发生产四探针测试仪,方阻测试仪,电容器金属化膜电阻率测试仪,PE膜方块电阻测试仪
苏州晶格电子有限公司自主研发生产四探针测试仪,方阻测试仪,电容器金属化膜电阻率测试仪,PE膜方块电阻测试仪
产品类别: 电容器金属化膜
上架时间: 2018/11/29 13:28:30
浏览次数: 15138
上架时间: 2018/11/29 13:28:30
浏览次数: 15138
产品详细
————电容器金属化膜测试仪器方案推荐————
※样品特性:
PET薄膜上金属化膜,真空镀膜和喷镀工艺形成,金属膜厚度极薄,附着力差,容易脱落。
※测试难点:
苏州晶格薄膜专用测试探头自带弹簧收缩功能,很好的解决了金属膜的测试弱点,自主研发的高精准度四探针测试仪和专用型测试台搭配,让样品测试数据更稳定,重复性更好。
※方案要点:
测试探头测试台,首先优选行业专用的平行四刀法,其次是导电橡胶探针的四探针法。再其次是普通薄膜测试探针的四探针法。
测试仪优选低压小电流测试,最好有开路电压限压保护的功能。
整套晶格电容器金属化膜方块电阻测试仪器包括:探头、测试台、测试仪。
若选择晶格 SZT-I测试台则不需要选购探头。
详情请拨打400-635-7098或在线咨询客服。
填写咨询内容: | ||