产品中心
welcome to jingge Electronics
金属箔( 方阻方块电阻)测试方案
金属箔( 方阻方块电阻)测试方案
苏州晶格电子有限公司自主研发生产四探针测试仪,方阻测试仪,金属箔电阻率测试仪,铜箔方块电阻测试仪,铝箔电阻率测试仪
产品类别: 金属箔
上架时间: 2018/11/29 13:05:44
浏览次数: 19458
产品详细

———————金属箔测试仪器方案推荐————
铜箔方块电阻测试仪

              整套晶格金属箔方阻方块电阻测试仪器包括:探头、测试台、测试仪。若选择晶格

SZT-H或SZT-H1测试台则不需要选购探头。详情请拨打400-635-7098或在线咨询客服。

 



四探针探头ST2571-F03

填写咨询内容:
  • 订购产品: *
  • 姓 名: *
  • 电 话: *
  • 邮 箱: *
  • 备注信息:
  • 验证码:
  •       
版权所有 苏州晶格电子有限公司/ 技术支持:仕德伟科技 / 苏ICP备10203210号
收缩